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日本横河AQ6375B AQ6370B/C光谱分析仪

  • 访问次数:204
  • 更新时间:2023-09-01

简要描述:日本横河AQ6375B AQ6370B/C光谱分析仪
横河AQ6375B技术参数

一、光学参数
波长范围:192~1100nm
光谱分辨率:0.05~0.5nm (步长0.01nm)
光学灵敏度:75000 counts (Si探测器,633nm,0.1ms积分时间)
光学灵敏度漂移:±1.5% (温度变化±5℃)
温度稳定性:±1.0% (以环境温度为基准)
光孔直径:≤6mm
光孔移动范围:

产品详情
品牌YOKOGAWA/日本横河产地类别进口
产品成色9成新使用年限4-5年
保修期限1年应用领域电子,电气

日本横河AQ6375B AQ6370B/C光谱分析仪


横河AQ6375B技术参数

638282148837644391919.png

一、光学参数
波长范围:192~1100nm
光谱分辨率:0.05~0.5nm (步长0.01nm)
光学灵敏度:75000 counts (Si探测器,633nm,0.1ms积分时间)
光学灵敏度漂移:±1.5% (温度变化±5℃)
温度稳定性:±1.0% (以环境温度为基准)
光孔直径:≤6mm
光孔移动范围:X方向±8mm,Y方向±8mm,Z方向±15mm
光孔移动速度:最大50mm/s
二、机械参数
大小:L495×W347×H148mm
重量:约12kg (不包括附件)
三、系统参数
电源:AC 100V±10%, 50/60Hz, 约200VA
冷却方式:强制风冷(小型冷却装置)
显示语言:中文
电脑接口:RS-232C (9芯插头)
工作环境:室内,温度5~35℃,湿度20%~80%
四、测试功能
扫描速度:最高达64次扫描/秒(基于双扫描方式)
扫描模式:等速时间扫描(IS扫描),等速角度扫描(IA扫描),等速波长扫描(IW扫描)
基线校正:自动或手动
噪声测量:实时测量,2Hz~200Hz,0~20℃
五、测量应用
透过率/吸收率测量:T(λ)/A(λ)测量,无需样品室,可测量多层镀膜、光学零件等
反射率/反射能量测量:R(λ)/E(λ)测量,可测量镀膜光学零件、各种金属材料等
双光束测量:测量光束与参考光束同时测量,自动扣除干扰因素影响,提升测量精度
六、系统应用
基本测量应用:透过率/吸收率、反射率/反射能量、光谱分布、光致发光谱(PL谱)、荧光光谱(FL谱)、拉曼光谱(RS谱)等
高级测量应用:等离子体诊断、纳米颗粒跟踪、生物分子光学厚度测量、荧光寿命成像(FLI)、多光子激发(MPELE)、光泵浦(OPO)等
七、附加功能
数据存储功能:可存储扫描数据及分析结果,支持U盘等存储设备,文件格式为通用CSV格式,可随时导入至PC端进行数据分析及处理
数据复制功能:支持数据复制,实现数据转移,方便多个设备间数据共享
远程控制功能:支持远程控制,通过PC端或手机端实现远程操作二、机械参数
大小:L495×W347×H148mm
重量:约12kg (不包括附件)
三、系统参数
电源:AC 100V±10%, 50/60Hz, 约200VA
冷却方式:强制风冷(小型冷却装置)
显示语言:中文
电脑接口:RS-232C (9芯插头)
工作环境:室内,温度5~35℃,湿度20%~80%
四、测试功能
扫描速度:最高达64次扫描/秒(基于双扫描方式)
扫描模式:等速时间扫描(IS扫描),等速角度扫描(IA扫描),等速波长扫描(IW扫描)
基线校正:自动或手动
噪声测量:实时测量,2Hz~200Hz,0~20℃
五、测量应用
透过率/吸收率测量:T(λ)/A(λ)测量,无需样品室,可测量多层镀膜、光学零件等
反射率/反射能量测量:R(λ)/E(λ)测量,可测量镀膜光学零件、各种金属材料等
双光束测量:测量光束与参考光束同时测量,自动扣除干扰因素影响,提升测量精度
六、系统应用
基本测量应用:透过率/吸收率、反射率/反射能量、光谱分布、光致发光谱(PL谱)、荧光光谱(FL谱)、拉曼光谱(RS谱)等
高级测量应用:等离子体诊断、纳米颗粒跟踪、生物分子光学厚度测量、荧光寿命成像(FLI)、多光子激发(MPELE)、光泵浦(OPO)等
七、附加功能
数据存储功能:可存储扫描数据及分析结果,支持U盘等存储设备,文件格式为通用CSV格式,可随时导入至PC端进行数据分析及处理
数据复制功能:支持数据复制,实现数据转移,方便多个设备间数据共享
远程控制功能:支持远程控制,通过PC端或手机端实现远程操作

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